半导体镀层厚度检测分析仪$n是专为半导体行业打造的精密检测设备。它运用先进的检测技术，如X射线荧光光谱或椭偏测量等，能以高的精度，快速、无损地测量半导体芯片及器件上各类镀层厚度。仪器具备高分辨率和良好的重复性，可精准捕捉微小厚度变化。广泛应用于半导体制造、研发等环节，助力把控产品质量，提升生产良率与性能稳定性。

电镀层膜厚测量仪$n荧光X射线镀层测厚仪：这类仪器采用荧光X射线原理，通过测量X射线照射到覆层表面后被吸收和散射的程度来测定覆层厚度。

Pcb表面镀层检测仪$n整机保修一年，终身维修,保修期从设备验收合格当日起计算。$n5. 免费提供软件升级$n6. 保修期内，提供全天 24小时（包含节假日）技术支持及现场维护服务。在接到设备故障报修后，提供远程故障解决方案（1小时内）, 如有需要，24小时内派人上门维修和排除故障。

电镀金镍锡镀层厚度检测仪 金层厚度检测机器设备镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. 检测金层厚度仪器设备可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

X荧光台式镀层测厚仪 X荧光光谱台式镀层测厚仪是一款精密分析设备。它基于X射线荧光原理，能无损、快速且精准测量金属及非金属基体上各类镀层厚度，涵盖单层至多层复杂结构。仪器操作简便，台式设计节省空间，具备高分辨率与稳定性，可广泛应用于电镀、电子、五金等行业，为质量控制与工艺优化提供可靠数据支持。

电镀x荧光镀层测厚仪 电镀X荧光光谱镀层测厚仪，是一款利用X射线荧光原理精准测量镀层厚度的专业设备。它无需破坏样品，通过激发镀层元素产生特征X射线，分析其强度来快速确定厚度。该仪器操作简便、测量精准、重复性好，可广泛应用于电镀、电子、五金等行业，为镀层质量控制提供可靠数据支持。

毛细管X射线电镀层测厚仪 毛细管X射线光谱电镀层测厚仪是一款高精度检测设备。它利用毛细管聚焦X射线技术，能精准分析电镀层元素成分。通过测量X射线与镀层相互作用产生的特征光谱，快速、无损地测定镀层厚度，测量范围广、精度高。适用于各类金属及非金属基体上电镀层的厚度检测，为电镀工艺质量控制提供可靠数据支持。

x光镀层测厚仪 X光谱镀层测厚仪是一款利用X射线荧光原理精准测量镀层厚度的专业设备。它通过激发镀层元素产生特征X射线，分析其强度来确定厚度，非破坏性检测，操作便捷。适用于电镀、涂装等行业，能快速、准确测量单层或多层镀层厚度，为质量控制提供可靠数据，助力提升产品性能与品质稳定性。